1. 掃描電鏡（SEM）分析服務：表面形貌觀察、能譜微區元素的定性及定量分析、晶體結構與晶粒取向分析（EBSD）、納米結構分析與材料微納結構制備（FIB）、溶液相變過程觀察、材料的缺陷分析、全自動夾雜物分析、礦相分析等。

2. 透射電鏡（TEM）分析服務：高分辨電子顯微觀察、選區電子衍射分析、原子序數襯度成像、磁疇觀察、能譜微區元素定性及定量分析。

3. 環境氣氛球差校正透射電子顯微鏡：研究物質在可變氣體環境下原子級動態行為，還可以在可變氣體環境、氣壓和溫度條件下，對催化反應、材料生長、結構穩定性做動態實時觀察和記錄，微結構和成分等分析。

4. 三維原子探針分析服務：以三維視角在亞納米尺度揭示材料內部所有元素的分布。特別適合于研究納米尺度的微小結構（沉淀、團簇、GP區等）以及各種內界面（晶界、相界、多層膜結構中的層間界面等），還可觀測和研究元素在界面的偏聚行為，微小沉淀相的尺寸、分布以及成分。

5. 電子探針分析服務：材料的定性分析、定量分析、面分析、線分析、工作曲線、狀態分析等。

6. 電鏡樣品制備：離子減薄、噴碳、噴金等。

主要儀器設備：鎢絲燈掃描電鏡；場發射掃描電鏡；聚焦離子束場發射掃描雙束電鏡（FIB）；環境掃描電鏡；透射電子顯微鏡；環境氣氛球差校正透射電子顯微鏡；三維原子探針；電子探針；離子減薄儀。